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三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)掃描物體的幾種方法及其應(yīng)用 | 摘要:本文介紹了美國(guó)brown&sharpe公司的microxcel pfx454型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)掃描物體的幾種方法及其應(yīng)用。 關(guān)鍵詞:三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 掃描 YDD 接觸式測(cè)量 聯(lián)機(jī) The several ways and its using of sYDnning object by CMM Wang Zhikui Zhu Qinghui LI Hongsheng ( Henan Nanyang Institute of Science and Technology , Nanyang, 473004 , China) Abstract: This article introduced several ways and its appliYDtion of sYDnning object by microrcel pfx454 CMM made in AmeriYDn brown&sharpe Corporation's Key words: Three- CMM SYDN YDD Contact Measurement DCC 一、 前言 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)簡(jiǎn)稱CMM,自六十年代中期第一臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)問世以來,隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展,為三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。 CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量,接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面,以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法,數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析,也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。 掃描指借助三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。 掃描類型與測(cè)量模式、測(cè)頭類型及是否有YDD文件等有關(guān),狀態(tài)按紐(手動(dòng)/DCC)決定了屏幕上可選用的“掃描”(SYDN)選項(xiàng)。 若用DCC方式測(cè)量,又具有YDD文件,那么掃描方式有“開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)、“面片”(PATCH)、“截面”(SECTION)及“周線”(PERIMETER)掃描。 若用DCC方式測(cè)量,而只有線框型YDD文件,那么可選用 “開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)和“面片”(PATCH)掃描方式。 若用手動(dòng)測(cè)量模式,那么只能用基本的“手動(dòng)觸發(fā)掃描”(MANUL TTP SYDN)方式。 若在手動(dòng)測(cè)量方式,測(cè)頭為剛性測(cè)頭,那么可用選項(xiàng)為“固定間隔”(FIXED DELTA)、“變化間隔”(VARIABLE DELTA)、“時(shí)間間隔”(TIME DELTA)和“主體軸向掃描”(BODY AXIS SYDN)方式。 下面詳細(xì)介紹在DCC狀態(tài)下,進(jìn)入“功能”(Utility)菜單選取“掃描”(SYDn)選項(xiàng)后,五種可供選擇的掃描方式。 二、 開線掃描(OPEN LINEAR SYDN) 開線掃描是最基本的掃描方式,測(cè)頭從起始點(diǎn)開始,沿一定方向并按預(yù)定的步長(zhǎng)進(jìn)行掃描,直至終止點(diǎn),開線掃描分有、無YDD模型兩種情況。 a 、無YDD模型 邊界點(diǎn)(Boundary Points)的名義值必須輸入,在對(duì)話框中邊界點(diǎn)的選項(xiàng),在“1”上點(diǎn)擊,開始了第一項(xiàng)輸入,這是掃描起始點(diǎn),輸入所需數(shù)據(jù)后,點(diǎn)擊“OK”;第二項(xiàng)是帶“D”字的方向點(diǎn),在“D”上雙擊鼠標(biāo),輸入新的X、Y、Z的值,這就代表了一個(gè)掃描向什么方向走的坐標(biāo)點(diǎn);第三項(xiàng)是帶“2”字的值,這是掃描終點(diǎn),雙擊并輸入所需數(shù)據(jù)。如圖1所示: 圖1 開線掃描示意圖 下一項(xiàng)為步長(zhǎng),在“掃描對(duì)話”(SYDn Dialog)框中,“方向1技術(shù)”(Direction 1 Tech)欄中的最大(Max Inc)欄,輸入一個(gè)新步長(zhǎng)。 最后一項(xiàng)是看設(shè)定的方向矢量是否正確,此矢量定義了開始掃描的第一測(cè)量點(diǎn)表面的法矢、截面和最后一點(diǎn)表面的法矢,當(dāng)所有的數(shù)據(jù)輸入完成后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。 b有YDD模型 此方法適用有YDD模型的零件。開始掃描時(shí),用鼠標(biāo)左鍵,在YDD模型的相應(yīng)表面點(diǎn)擊,PC-DMIS將在YDD模型上生成一點(diǎn),而且加標(biāo)志為“1”表示為掃描為起始點(diǎn);點(diǎn)擊下一點(diǎn),此點(diǎn)定義了掃描的方向;最后點(diǎn)擊終點(diǎn),亦可用此表示邊界,此點(diǎn)為標(biāo)志“2”,在1和2之間連一線,對(duì)每一所選的點(diǎn),PC-DMIS已在對(duì)話框中輸入相應(yīng)的坐標(biāo)值及矢量。選擇步長(zhǎng)及所需選項(xiàng)后,如:安全平面、單點(diǎn)等,點(diǎn)擊“測(cè)量”,然后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”即可。 三、 閉線掃描(CLOSED LINEAR SYDN) 閉線掃描允許用戶掃描內(nèi)表面或外表面,它只需要一個(gè)“起點(diǎn)”和“方向點(diǎn)”兩個(gè)值,因?yàn)镻C-DMIS將起點(diǎn)亦作為終點(diǎn)位置。具體步驟為: a鍵入數(shù)據(jù)方式 雙擊邊界點(diǎn)第一點(diǎn)“1”,然后在編輯對(duì)話框輸入位置,雙擊方向點(diǎn)“D”后輸入坐標(biāo)值。然后選擇掃描的類型,即“線性”還是“變量”、輸入步長(zhǎng)、定義觸測(cè)的類型(矢量、表面或是邊緣)。在初始矢量上雙擊,輸入第一點(diǎn)的矢量,檢查截面矢量,鍵入其他選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。 也可用操作盤在被測(cè)物體表面所需第一點(diǎn)的位置上觸測(cè),然后在定義方向的點(diǎn)上觸測(cè),PC-DMIS將把這些值自動(dòng)放到對(duì)話框里,且自動(dòng)算出初始矢量,選擇掃描的控制方式和測(cè)點(diǎn)類型以及所需的選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”即可。 b有YDD模型方式 當(dāng)有YDD模型時(shí),測(cè)量前確認(rèn)為“閉線掃描”。首先點(diǎn)擊表面的起始點(diǎn)位置,符號(hào)“1”將在YDD模型上生成,點(diǎn)擊時(shí)表面被加亮,同時(shí)邊界點(diǎn)也加亮以便選擇正確的表面。 然后點(diǎn)擊掃描的方向點(diǎn),對(duì)每一所選的位置,PC-DMIS在對(duì)話框中給出了相應(yīng)的坐標(biāo)及矢量。選擇掃描的控制方式、步長(zhǎng)、及所需的選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。 四、 面片掃描(PATCH SYDN) 面片掃描允許用戶掃描一個(gè)區(qū)域而不再是掃描線,應(yīng)用此掃描方式,至少需要四個(gè)邊界點(diǎn)信息:一個(gè)開始點(diǎn)、一個(gè)方向點(diǎn)、掃描長(zhǎng)度和掃描寬度。按此基本的或缺省的信息,PC-DMIS將根據(jù)給出的邊界點(diǎn)1、2、3來定出三角形面片,而方向由D的坐標(biāo)來定;若增加了第四個(gè)邊界點(diǎn),面片可以為四方形,如圖2所示。 圖2 面片掃描類型 在此掃描方式中的“閉線掃描”復(fù)選框指將要掃描一個(gè)封閉元素,如圓柱、圓錐、槽等。只要輸入起始點(diǎn)、終止點(diǎn)及方向點(diǎn)。終止點(diǎn)表示掃描被測(cè)元素時(shí)將向上或向下移動(dòng)的距離;起始點(diǎn)方向點(diǎn)與起始矢量一起定義了截平面的矢量,一般情況下截平面的矢量平行與被測(cè)元素。 a鍵入坐標(biāo)值定義 創(chuàng)建一個(gè)如圖所示的四邊形面片,在邊界點(diǎn)“1”雙擊,并輸入起始點(diǎn)的X、Y、Z。 在邊界方向點(diǎn)“D”上雙擊,輸入掃描方向點(diǎn)的坐標(biāo)。 在邊界點(diǎn)“2”上雙擊,輸入確定第一方向掃描寬度。 在邊界點(diǎn)“3”上雙擊,輸入確定第二個(gè)方向掃描的寬度。 在“3”上點(diǎn)擊鼠標(biāo),然后按“添加”按紐,對(duì)話框中給出第四個(gè)邊界點(diǎn),在“4”上雙擊,輸入結(jié)束點(diǎn)的坐標(biāo)值。 圖 3 掃描步長(zhǎng)及寬度示意圖 “最大步長(zhǎng)”,指1、2兩點(diǎn)間的步長(zhǎng); “步長(zhǎng)”,指各點(diǎn)間的步距,選擇所需的值后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”,如圖3所示。 b用測(cè)量機(jī)來定義 以上例為例,定義一個(gè)四邊形面片,首先確認(rèn)所選的被測(cè)元素是“面片掃描”,用操作盤在希望作為起始點(diǎn)處測(cè)一點(diǎn),此點(diǎn)坐標(biāo)將進(jìn)入邊界點(diǎn)框內(nèi)的“#1”項(xiàng)目?jī)?nèi);測(cè)第二點(diǎn),此點(diǎn)將告知PC-DMIS開始掃描第一方向的終點(diǎn),此點(diǎn)坐標(biāo)將進(jìn)入邊界點(diǎn)框“D”項(xiàng)目?jī)?nèi);測(cè)第三點(diǎn),此點(diǎn)標(biāo)志著掃描面片的寬度,此點(diǎn)坐標(biāo)將進(jìn)入“#3”項(xiàng)目?jī)?nèi);在“3”點(diǎn)上點(diǎn)擊,選“添加”,這將在清單上加上第四點(diǎn),在終點(diǎn)上觸測(cè),這將關(guān)閉方框,最后定義兩個(gè)方向數(shù)據(jù):掃描行距和步長(zhǎng),選擇掃描觸測(cè)類型及所需選項(xiàng)后,并點(diǎn)擊“創(chuàng)建”即可。 c用YDD的曲面模型定義 此方法只適用于有YDD曲面模型的情況,首先選定“面片掃描”方式,用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊YDD所希望在其上工作的表面,將“邊界點(diǎn)”對(duì)話框中“1”加亮,然后用鼠標(biāo)左鍵在 曲面希望的點(diǎn)上點(diǎn)擊;加亮“D”,在曲面定義方向點(diǎn)上點(diǎn)擊;現(xiàn)定掃描的寬度,在表面上點(diǎn)擊(即#2);定義掃描的上寬度,在表面上點(diǎn)擊(即#3);最后定義終點(diǎn),封閉方框,在“3”上點(diǎn)擊,然后選“添加”按紐,加附加點(diǎn),加亮增加的點(diǎn)“4”,在表面所希望的位置點(diǎn)擊。定義兩個(gè)方向的步長(zhǎng),選擇所需選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”即可。 五、 截面掃描(SECTION SYDN) 截面掃描僅為具有YDD曲面模型下使用,它允許在一個(gè)物體某一截面進(jìn)行掃描。此掃描截面可沿X、Y或Z軸或與某軸成一定角度,定義步長(zhǎng)進(jìn)行多個(gè)截面掃描,在對(duì)話框中,允許進(jìn)行截面掃描而設(shè)置邊界點(diǎn),按“剖切YDD”轉(zhuǎn)換按紐,在YDD模型內(nèi)尋找任何存在的孔,邊界線在“開線”掃描中用類似方式得到,PC-DMIS將沿掃描路徑自動(dòng)從YDD模型中避開孔,掃描可以按用戶定義的表面作剖切YDD,方法是: 1、 選邊界點(diǎn)選項(xiàng) 2、 選“YDD元素選擇框”作標(biāo)志 3、 選所希望的曲面 4、 不清除“YDD元素選擇”的情況下,選“剖切YDD”選項(xiàng) 此時(shí)PC-DMIS將切割所選的表面去尋找孔,若YDD中沒有定義孔,就沒有必要按“CUT YDD” 選項(xiàng),若沒選此選項(xiàng),PC-DMIS將按給出的起始點(diǎn)及終止邊界點(diǎn)進(jìn)行掃描,當(dāng)有一個(gè)復(fù)雜的YDD圖形,擁有多個(gè)曲面,可以分組到Y(jié)DD不同層,這樣將有助于限制YDD截面,使剖切發(fā)生在局部的YDD模型上。 六、 邊界掃描(PERIMETER SYDN) 邊界掃描只適用有YDD曲面模型情況下,此種掃描用YDD的數(shù)學(xué)模型計(jì)算掃描的路經(jīng),此路經(jīng)以邊界或外輪廓偏置一定距離,此距離由用戶給定,為進(jìn)行邊界掃描,首先選定 “邊界掃描”選項(xiàng),并考慮以下因素: a) 若為內(nèi)邊界掃描,則在邊界掃描對(duì)話框中選擇“內(nèi)邊界掃描”。 b) 選定工作曲面,首先確認(rèn)“選擇”復(fù)選框已啟動(dòng),每選一個(gè)曲面則加亮一個(gè),在所有期望的曲面選定后,取消“選擇”復(fù)選框標(biāo)志。 c) 點(diǎn)擊表面上一點(diǎn),此點(diǎn)為“開始點(diǎn)”。 d) 在同一表面上點(diǎn)擊掃描“方向點(diǎn)”,確認(rèn)執(zhí)行掃描的方向。 e) 點(diǎn)擊表面,表示掃描“終止點(diǎn)”,若不給出終點(diǎn),則就把起點(diǎn)當(dāng)終點(diǎn)。 f) 在掃描構(gòu)造編輯框內(nèi)輸入相應(yīng)值,這些值包括“增值”、“YDD公差”。 g) 選“計(jì)算邊界”選項(xiàng),將計(jì)算所創(chuàng)建掃描的邊界。 h) 確認(rèn)偏差值正確情況下,按“產(chǎn)生測(cè)點(diǎn)”按鈕,PC-DMIS將自動(dòng)計(jì)算執(zhí)行掃描的理論值。 至此邊界掃描方可進(jìn)行,點(diǎn)擊“create”。 七、 總結(jié) 綜合以上各種掃描方法,用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采集零件的幾何信息來創(chuàng)建零件幾何模型的方法很多,但是數(shù)據(jù)的采集方案要符合造型的基本思路,否則很難實(shí)現(xiàn)零件形狀的精確再現(xiàn)。測(cè)量時(shí)要注以下問題:1、被測(cè)件的正確裝卡有利于測(cè)量的操作和測(cè)頭移動(dòng);2、為了保證造型精度,工件裝夾要使測(cè)頭盡量一次測(cè)完所有被測(cè)對(duì)象;3、測(cè)量點(diǎn)應(yīng)包括輪廓信息的關(guān)鍵點(diǎn),尤其是在曲率變化比較明顯的地方要增加測(cè)點(diǎn)。 |
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